SE-1000型 光譜型橢偏儀是多功能薄膜測(cè)試系統(tǒng)，適合各種薄膜材料的研究。

SE-1000型橢偏儀在測(cè)試的準(zhǔn)確性和靈活性與SE-2000保持一致的情況下，配置手動(dòng)變角測(cè)角計(jì)與手動(dòng)移動(dòng)樣品臺(tái)，為客戶提供了一款高性價(jià)比的橢偏測(cè)試平臺(tái)。另外，SE-1000型光譜橢偏儀采用了新設(shè)計(jì)的光學(xué)部件以及新版本的測(cè)試分析軟件，大大提高了設(shè)備的運(yùn)行穩(wěn)定性和數(shù)據(jù)處理能力。

與SE-2000平臺(tái)一樣，SE-1000光譜橢偏儀同時(shí)也是一個(gè)多功能測(cè)試平臺(tái)，采用模塊化的設(shè)計(jì)，可集成FTIR紅外光譜測(cè)試模組、渦電流法非接觸式或4PP接觸式方塊電阻測(cè)試模組、Mueller Matrix各項(xiàng)異性材料測(cè)試模組、Raman結(jié)晶率測(cè)試模組、電子遷移率表征模組、LBIC光誘導(dǎo)電流測(cè)試模組、反射干涉測(cè)試模組等多種功能，用戶可根據(jù)測(cè)試需求合理選擇搭配功能。

產(chǎn)品特點(diǎn)

業(yè)界第一家光譜型橢偏儀測(cè)試設(shè)備廠商

業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試機(jī)構(gòu)定標(biāo)設(shè)備，參與發(fā)布中華人民共和國(guó)橢圓偏振測(cè)試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

針對(duì)研發(fā)及實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)計(jì)，能降低測(cè)試成本

模塊化設(shè)計(jì)，可綜合監(jiān)控樣品光學(xué)和電學(xué)特性

定期免費(fèi)升級(jí)SOPRA材料數(shù)據(jù)庫(kù)

開放光學(xué)模型擬合分析過程，方便用戶優(yōu)化測(cè)試菜單

主要應(yīng)用

業(yè)界第一家光譜型橢偏儀測(cè)試設(shè)備廠商

業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試機(jī)構(gòu)定標(biāo)設(shè)備，參與發(fā)布中華人民共和國(guó)橢圓偏振測(cè)試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)

針對(duì)研發(fā)及實(shí)驗(yàn)室測(cè)試設(shè)計(jì)，能降低測(cè)試成本

模塊化設(shè)計(jì)，可綜合監(jiān)控樣品光學(xué)和電學(xué)特性

定期免費(fèi)升級(jí)材料數(shù)據(jù)庫(kù)

開放光學(xué)模型擬合分析過程，方便用戶優(yōu)化測(cè)試菜單

主要技術(shù)指標(biāo)