Semilab SE-2000型全光譜橢偏儀
Semilab SE-2000型全光譜橢偏儀
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Semilab SE-2000型全光譜橢偏儀

Semilab-SE-2000型全光譜橢偏儀

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納瑟(上海)納米科技有限公司

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上海市虹口區(qū)

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儀器儀表, 電子產(chǎn)品

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商品參數(shù)
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商品介紹
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聯(lián)系方式
品牌 Semilab
光譜范圍 193nm-25um
樣品臺(tái) 標(biāo)準(zhǔn)200mm，300mm可選
入射角 20-90度 自動(dòng)變角
厚度精度 < 0.5nm
折射率精度 < 0.005
是否進(jìn)口 是
原產(chǎn)國(guó) 匈牙利
用途 科研/工業(yè)
數(shù)據(jù)庫(kù) 定期免費(fèi)升級(jí)
商品介紹

SE-2000型全光譜橢偏測(cè)試平臺(tái)基于橢圓偏振測(cè)試技術(shù)，通過(guò)樣品光學(xué)模型的建立，計(jì)算出單層或多層薄膜結(jié)構(gòu)的厚度、折射率和消光系數(shù)，實(shí)現(xiàn)精確、快速、穩(wěn)定的寬光譜橢偏測(cè)試。


SE-2000光譜橢偏儀是針對(duì)產(chǎn)線(xiàn)和實(shí)驗(yàn)室推出的多功能高速測(cè)試平臺(tái)測(cè)試平臺(tái)。模塊化的設(shè)計(jì)，可選配300mm樣品臺(tái)或350*450mm平板樣品臺(tái)，Robot上片系統(tǒng)，圖形識(shí)別系統(tǒng)和數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)高速在線(xiàn)監(jiān)控。在測(cè)試功能方面，可自由組合多種從190nm深紫外光譜至2400nm近紅外光譜的探測(cè)器，并可拓展FTIR紅外光譜測(cè)試模組、渦電流法非接觸式或4PP接觸式方塊電阻測(cè)試模組、Mueller Matrix各項(xiàng)異性材料測(cè)試模組、Raman結(jié)晶率測(cè)試模組、電子遷移率表征模組、LBIC光誘導(dǎo)電流測(cè)試模組、反射干涉測(cè)試模組等多種功能，使SE-2000成為光學(xué)和電學(xué)特性表征綜合測(cè)試系統(tǒng)。

產(chǎn)品特點(diǎn)

業(yè)界第一家光譜型橢偏儀測(cè)試設(shè)備廠(chǎng)商
業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試機(jī)構(gòu)定標(biāo)設(shè)備，參與發(fā)布中華人民共和國(guó)橢圓偏振測(cè)試技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)
業(yè)界最寬測(cè)試光譜范圍，選配190nm-25um，可自動(dòng)切換快速探測(cè)模式和高精度探測(cè)模式
配置實(shí)時(shí)對(duì)焦傳感器，實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量
選配Robot上片系統(tǒng)，圖形識(shí)別系統(tǒng)和數(shù)據(jù)通信系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)在線(xiàn)監(jiān)控
獨(dú)特的樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，優(yōu)化固定大尺寸的柔性材料
模塊化設(shè)計(jì)，可綜合監(jiān)控樣品光學(xué)和電學(xué)特性
定期免費(fèi)升級(jí)材料數(shù)據(jù)庫(kù)
開(kāi)放光學(xué)模型擬合分析過(guò)程，方便用戶(hù)優(yōu)化測(cè)試菜單

主要應(yīng)用

光伏行業(yè)
半導(dǎo)體行業(yè)
平板顯示行業(yè)
光電行業(yè)

主要技術(shù)指標(biāo)

最大樣品尺寸： 300mm
厚度測(cè)量范圍：0.01nm-50um
厚度測(cè)試精度： < 0.5nm 
折射率測(cè)試精度：< 0.005 

聯(lián)系方式
公司名稱(chēng) 納瑟(上海)納米科技有限公司
聯(lián)系賣(mài)家 劉峰
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地址 上海市虹口區(qū)